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  • 直徑40試驗探棒
    直徑40試驗探棒

    直徑40試驗探棒符合IEC60335-2-14:20.103、GB4706-30:20.103等標準條款要求,直徑:40㎜,末端為半球形。

  • 直徑3試驗探針廠家直供
    直徑3試驗探針廠家直供

    直徑3試驗探針廠家直供:ZLT-P05A符合IEC60884:24.11及GB2099:24.11標準條款要求,用于對移動式插座用于懸掛到墻壁上的空間與帶電部件之間的隔層進行機械應力試驗。

  • 直徑3試驗探針
    直徑3試驗探針

    直徑3試驗探針符合IEC 1010、IEC60335-2-25:22.105、GB4706:22.105、EN61010-1、UL3101-1、 UL3111-1 and CSA1010-1等標準要求,用于對操作微波爐的隱蔽的門聯鎖裝置。

  • 試具探針
    試具探針

    試具探針:ZLT-P04符合IEC60065:9.1.3、GB8898:9.1.3、EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1等標準條款要求。

  • 劃痕工具,IEC60335圖102
    劃痕工具,IEC60335圖102

    劃痕工具,IEC60335圖102:符合GB4706.13圖102等標準要求,用于對家電中所有受保護冷卻系統的易觸及元件表面,包括與受保護冷卻系統緊密接觸的易觸及表面進行刮擦試驗。

  • 直徑8試驗探棒
    直徑8試驗探棒

    直徑8試驗探棒符合IEC60335-2-14:20.102、GB4706-30:20.102等標準條款要求,直徑:8㎜,長:80㎜,配手柄。

  • 試驗探頭,通訊端測試棒
    試驗探頭,通訊端測試棒

    試驗探頭,通訊端測試棒符合IEC60950圖2C、GB4943圖2C、IEC60065、GB8898等標準要求,用于對信息技術設備的TNV電路的裸露部件是否有足夠的保護。

  • 帶推力試驗探針
    帶推力試驗探針

    帶推力試驗探針符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標準要求,用于對帶保護門的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗。

  • 帶推力試驗探針
    帶推力試驗探針

    帶推力試驗探針:ZLT-I20符合GB2099-2008圖9、IEC60884圖9等標準要求,用于檢驗帶保護門的插座的帶電部件是否觸及。

  • 試驗鉤,IEC60065圖4
    試驗鉤,IEC60065圖4

    試驗鉤,IEC60065圖4 ZLT-I18符合GB8898圖4、IEC60065圖4等標準要求,用于檢驗危險帶電零部件是否被觸及。

  • 試具43探針,IEC61032圖17試具43
    試具43探針,IEC61032圖17試具43

    試具43探針,IEC61032圖17試具43 ZLT-I17 符合IEC61032圖17試具43、GB/T16842試具43等標準要求,用于檢驗固定式或便攜式可見熱輻射取曖器的保護。

  • 試驗探棒,IEC61032圖16試具41
    試驗探棒,IEC61032圖16試具41

    試驗探針,試驗探棒,IEC61032圖16試具41:ZLT-I16 符合IEC61032圖16試具41、GB/T16842試具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等標準要求,用于檢驗灼熱部件被觸及。

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